Электронным полупроводником или полупроводником типа n (от латинского negative – отрицательный) называется полупроводник, в кристаллической решетке которого (рис. 1.3) помимо основных (четырехвалентных) атомов содержатся примесные пятивалентные атомы, называемые донорами. В такой кристаллической решетке четыре валентных электрона примесного атома заняты в ковалентных связях, а пятый («лишний») электрон не может вступить в нормальную ковалентную связь и легко отделяется от примесного атома, становясь свободным носителем заряда. При этом примесный атом превращается в положительный ион. При комнатной температуре практически все примесные атомы оказываются ионизированными. Наряду с ионизацией примесных атомов в электронном полупроводнике происходит тепловая генерация, в результате которой образуются свободные электроны и дырки, однако концентрация возникающих в результате генерации электронов и дырок значительно меньше концентрации свободных электронов, образующихся при ионизации примесных атомов, так как энергия, необходимая для разрыва ковалентных связей, существенно больше энергии, затрачиваемой на ионизацию примесных атомов.
Концентрация электронов в электронном полупроводнике обозначается nn, а концентрация дырок –pn. Электроны в этом случае являются основными носителями заряда, а дырки – неосновными.
В состоянии теплового равновесия в таком полупроводнике концентрации свободных электронов nn и дырок pn определяются соотношениями:
nn =An exp((Wфп – Wдн) / (kT)); pn = Ap exp((Wв–Wфп) / (kT).; (1.3)
С учётом соотношений (1.1) и (1.2) их можно представить в следующем виде:
nn =ni exp((Wфп–Win) / (kT)); (1.4)
pn = ni exp((Win – Wфп) / (kT)). (1.5)
Из этих соотношений следует, что для полупроводника n-типа выполняется неравенство nn>> pn.
Если считать, что при комнатной температуре все атомы донорных примесей ионизированы (nn = Nд, pn0), то на основании выражения (1.4) можно записать:
Wфп = Win + kTLn(Nд /ni), (1.6)
где Nд – концентрация донорных атомов в полупроводнике.
Из соотношения (1.6) видно, что в полупроводниках n-типа уровень Ферми располагается в верхней половине запрещенной зоны, и тем ближе к зоне проводимости, чем больше концентрация доноров. При увеличении температуры уровень Ферми смещается к середине запрещенной зоны за счёт ионизации основных атомов полупроводника.