Система XM8000

Ошибка базы данных WordPress: [Table './meandr_base/anzpz_usermeta' is marked as crashed and last (automatic?) repair failed]
SELECT user_id, meta_key, meta_value FROM anzpz_usermeta WHERE user_id IN (1) ORDER BY umeta_id ASC

0

Метрологическая платформа рентгеновского контроля полупроводниковых пластин XM8000 от компании Nordson DAGE

Опубликовано автором admin

Компания Nordson DAGE анонсирует представление платформы рентгеновского контроля полупроводниковых пластин XM8000 на европейском саммите SEMI European 3D TSV Summit, который проходит во Франции с 20 по 22 января 2014 года. Система XM8000 позволяет выполнять автоматизированный поиск дефектов и проведение автоматизированных высокопроизводительных измерений визуально скрытых и видимых элементов TSV (through-silicon… Продолжить чтение →