Métrologique plateforme inspection aux rayons X des plaquettes semi-conductrices de la société XM8000 Nordson DAGE
Компания Nordson DAGE анонсирует представление платформы рентгеновского контроля полупроводниковых пластин XM8000 на европейском саммите SEMI European 3D TSV Summit, который проходит во Франции с 20 по 22 января 2014 года. Система XM8000 позволяет выполнять автоматизированный поиск дефектов и проведение автоматизированных высокопроизводительных измерений визуально скрытых и видимых элементов TSV (through-silicon… Continue Reading